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이용수
2002
ABSTRACT
1. 서론
2. 화상 단순화 처리
3. 반도체 결함 분류기
4. 검사 시스템 및 결함 시험편
5. 결과 및 고찰
6. 결론
후기
참고문헌
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방재와 보험
2000 .01
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비파괴검사학회지
1990 .11
반도체 웨이퍼 자동 결함 검출 및 분석 시스템 구현
한국정보과학회 학술발표논문집
2001 .10
자동검사시스템에서 결함 가능성을 이용한 결함 검출
한국통신학회 학술대회논문집
2014 .06
반도체칩 내부 결함 검사 테스트 베드 개발
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2011 .10
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