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한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국공작기계학회 논문집 Vol.13 No.4
발행연도
2004.8
수록면
30 - 36 (7page)

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The development of LD(Laser Diode) tester and its control system based on the graphical programming language(LabVIEW) is addressed. The LD tester is used to check the optic power and the optic spectrum of the LD Chip. The emitter size of LD chip and the diameter of the Detector(optic fiber and photo diode) are very small, therefore the test device needs high accuracy. But each motion part of the test device could not accomplish high accuracy due to the limit of the mechanical performance. So, an image processing with machine vision is proposed to compensate for the error. By adopting our method we can reduce the error of position within ±5㎛.

목차

Abstract
1. 서론
2. LD Tester
3. LD Tester 구동제어 프로그램
4. Machine Vision을 이용한 위치제어
5. 결론
참고문헌

참고문헌 (11)

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