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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2008.5
- 수록면
- 254 - 255 (2page)
이용수
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We are reporting stack fabrication to study interlayer characteristics in high temperature superconducting single-crystal whisker through focused ion beam (FIB). We fabricated a stack area of 2 ㎛ × 2 ㎛ and height of approximately 500 ㎚ using FIB etching, which have several hundred of elementary Josephson junctions in c-axis. This stack has fabricated by rotation and ... 전체 초록 보기
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