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이용수
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
[참고문헌]
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LDD 구조를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 신뢰성 향상
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
LDD 구조를 가진 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 열화 특성의 분석
한국통신학회 학술대회논문집
2002 .11
LDD 구조를 가지는 n-채널 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 전기적 특성 분석 ( Analysis of the Electrical Characteristics on n-channel LDD structured poly-Si TFT's )
전자공학회논문지-IE
2000 .06
Polysilicon Thin Film Transistor for Improving Reliability using by LDD Structure
ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
2002 .07
LDD 구조를 가지는 n-채널 다결정 실리콘 박막 트랜지스터의 전기적 특성 분석
한국재료학회 학술발표대회
1999 .01
LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )
전자공학회논문지
1990 .03
핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구
전기전자재료학회논문지
2002 .01
LDD구조를 갖는 n-채널 다결정 실리콘 TFT소자에서 수소처리의 영향
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )
전자공학회논문지
1987 .05
AN EXPERIMENTAL INVESTIGATION OF ENHANCED LDD DEVICES
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1989 .01
게이트와 n-드레인 OVERLAP이 N-CHANNEL LDD 트랜지스터의 노쇠현상에 미치는 영향 ( THE EFFECT OF GATE TO n-DRAIN OVERLAP ON THE DEGRADATION OF N-CHANNEL LDD TRANSISTORS )
대한전자공학회 학술대회
1988 .01
저온 열처리를 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터
한국재료학회 학술발표대회
1993 .01
n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )
대한전자공학회 학술대회
1989 .01
LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )
한국통신학회 전문대학 논문지
1995 .01
LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석
전기학회논문지
1989 .06
LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )
전자공학회논문지
1990 .11
다결정 실리콘 박막 트랜지스터에서의 수소화에 따른 전기적 스트레스의 영향
대한전기학회 학술대회 논문집
1996 .07
n-MOSFET LDD 구조의 정전기 방전 시뮬레이션 ( Electrostatic Discharge Simulation in LDD n-MOSFET )
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
다결정 실리콘 박막트랜지스터의 저온 암모니아 어닐링에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1995 .06
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