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이용수
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 테스트가 용이한 순서 PLA의 설계
Ⅲ. 종래방법과의 비교
Ⅳ. 결론
참고문헌
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대한전자공학회 학술대회
1987 .07
테스트가 용이한 CMOS 순서 PLA의 설계
대한전기학회 학술대회 논문집
1987 .07
테스트가 용이한 순서 CMOS PLA의 설계 ( Design of Easily Testable CMOS Sequential PLAs )
대한전자공학회 학술대회
1987 .07
NMOS 소자의 제작 및 평가 ( Fabrication and Evaluation of NMOS Devices )
전자공학회지
1979 .09
70 ㎚ nMOS의 RF 적용을 위한 transistor matching
대한전자공학회 학술대회
2006 .06
NMOS , CMOS제작공정
대한전자공학회 단기강좌
1983 .01
천연망간산화물과 버네사이트에 의한 1-Naphthol의 제거 특성 비교
대한환경공학회지
2009 .04
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대한전자공학회 학술대회
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전자공학회논문지
1987 .05
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대한전자공학회 학술대회
1984 .11
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1984 .01
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대한전자공학회 학술대회
1987 .05
Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
테스트가 용이한 PLA 설계방식과 테스트 생성 ( Easily Testable Design and Test Generation for PLA`s )
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1984 .01
㏈-Linear Function Circuit Using Composite NMOS Transistor
ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications
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다중고장 테스트가 가능한 PLA설계 ( A Testable PLA's Design for Multiple Faults )
전자공학회논문지
1986 .09
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대한전자공학회 학술대회
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Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 PLA 설계 ( A Testable PLA Design Using Built-In Self-Testing Techniques )
대한전자공학회 학술대회
1991 .11
CMOS 이미지 센서용 NMOS-Diode eFuse OTP 설계
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부가회로가 간단한 PLA의 Testable Design ( An Easily Testable Design of PLA`s with Simple Additional Circuits )
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