유전체 손실을 고려한 전원부에서 유기되는 노이즈 모델링에 관한 연구

김종민; 남기훈; 하정래; 송기재; 나완수

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자료유형: 학술저널

저자정보: 김종민 남기훈 하정래 송기재 나완수 (성균관대학교)

저널정보: 한국전자파학회 한국전자파학회논문지 韓國電磁波學會論文誌第21卷第2號

발행연도: 2010.2

수록면: 170 - 178 (9page)

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본 논문에서는 전원부에서 노이즈가 발생되어 신호선에 노이즈가 유기될 때, 유전체의 손실 특성이 노이즈에 미치는 영향에 관해서 연구를 하였다. 이를 분석하기 위해 Full-wave 시뮬레이터인 Ansoft사의 HFSS(High Frequency Structure Simulation)와 CST사의 MWS(MicroWave Studio)의 계산 결과와 측정 결과를 비교하여 신뢰성을 확보하였고, 실제 사용되고 있는 4가지의 상용 기판에 대한 유기되는 노이즈를 해석하였다. 또한, TLM(Transmission Line Method)를 이용해서 전원면의 회로 모델 구성 시 기판의 유전체 손실을 반영할 수 있는 Debye 모델을 적용하여 주파수에 대한 임피던스를 분석할 수 있는 모델을 적용 측정 결과와 3 GHz까지 일치하는 모델을 얻었다.

#Power Delivery Network #Power Integrity #Debye Model #TLM #Coupled Noise

참고문헌 (7)

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1. [학술지(정기간행물)] - J. Kim / 2006 / Analysis of noise coupling from a power distribution network to signal traces in high- speed multilayer printed circuit boards / IEEE Trans. Electromagn. Compat 48 (2)

2. [학술지(정기간행물)] - J.Pack / 2006 / Modeling and measurement of simultaneous switching noise coupling through signal via transition / IEEE Trans.Adv.Packag 29 (3)

3. [학술지(정기간행물)] - J.H.Kim / 2001 / Modeling of irregular shaped power distribution planes using transmission matrix method / IEEE Trans.Adv.Packag 24 (3)

4. [기타자료] - J. Chandrasekhar / 2008 / Noise induced jitter in differential signaling / IEEE ECTC2008 : 1755 ~ 1761

5. [단행본] - M.Swaminathan / 2008 / Power Integrity MoDeling and Design for Semiconductors and Systems / Prentice Hall

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