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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2010.6
- 수록면
- 948 - 953 (6page)
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본 논문에서는 슈퍼스칼라 구조를 가진 시스템의 명령어 캐시에서 효율적으로 소프트오류를 검출할 수 있는 기법을 제안한다. 명령어 캐시로 주로 사용되는 고속 정적 RAM(Random Access Memory)에 적용할 수 있으며 1D 패리티와 인터리빙을 통해 기존 기법들과 비교하여 더 적은 메모리 오버헤드로 연집오류를 검출할 수 있다. 정적 RAM에서는 소프트오류의 발생만을 확인하고 검출된 소프트오류의 정정은 명령어 캐시의 캐시 미스와 같이 처리하여 하위 메모리로부터 명령어들을 다시 인출하는 방식이다. 이를 통해 명령어 캐시의 성능에 영향을 주지 않으면서 연집오류를 검출하고 정정할 수 있으며 최대 4×4의 윈도우 내에서 발생된 연집오류를 검출 할 수 있다. 제안된 방식을 이용하면 256비트 ? 256비트 크기의 메모리에서 기존의 4-way 인터리빙 기법에서 검출에 필요한 패리티 크기의 25%만으로도 동일한 4비트의 연집오류를 검출 할 수 있다.
목차
요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 소프트오류
Ⅲ. 소프트오류 검출 및 정정 기법
Ⅳ. 제안하는 소프트오류 검출 기법
Ⅴ. 제안한 기법에 대한 분석 및 정량적 결과
Ⅵ. 결론
참고문헌
참고문헌 (12)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - R.C.Baumann / 2004 / Soft Errors in Commercial Integrated Circuits / Int. J. of High Speed Electronics and Systems 14 (2) : 299 ~ 309
2. [학술지(정기간행물)] - T. Granlund / 2003 / Soft Error Rate Increase for New Generations of SRAMs / IEEE Trans. Nuc. Sci 50 (6) : 2065 ~ 2068
3. [학술대회논문] - J. Marz / 2003 / Characterization of Multi-bit Soft Error events in advanced SRAMs / IEEE Int. Electron Devices Meeting 2003 : 21.4.1 ~ 21.4.4
4. [학술지(정기간행물)] - S. Buchner / 2000 / Investigation of singleion multiple-bit upsets in memories on board a space experiment / IEEE Trans. on Nuclear Science 47 (3) : 705 ~ 711
5. [학술대회논문] - F.X. Ruckerbauer / 2007 / Soft Error Rates in 65nm SRAMs--Analysis of new Phenomena / IEEE int. conf. on IOLTS'07 : 203 ~ 204
2. [학술지(정기간행물)] - T. Granlund / 2003 / Soft Error Rate Increase for New Generations of SRAMs / IEEE Trans. Nuc. Sci 50 (6) : 2065 ~ 2068
3. [학술대회논문] - J. Marz / 2003 / Characterization of Multi-bit Soft Error events in advanced SRAMs / IEEE Int. Electron Devices Meeting 2003 : 21.4.1 ~ 21.4.4
4. [학술지(정기간행물)] - S. Buchner / 2000 / Investigation of singleion multiple-bit upsets in memories on board a space experiment / IEEE Trans. on Nuclear Science 47 (3) : 705 ~ 711
5. [학술대회논문] - F.X. Ruckerbauer / 2007 / Soft Error Rates in 65nm SRAMs--Analysis of new Phenomena / IEEE int. conf. on IOLTS'07 : 203 ~ 204
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