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김승택 (한국생산기술연구원) 김형태 (한국생산기술연구원) 이상호 (한국생산기술연구원) 김종석 (한국생산기술연구원) 김용권 (서울대학교)
저널정보
대한전기학회 대한전기학회 학술대회 논문집 2010 대한전기학회 제41회 하계학술대회
발행연도
2010.7
수록면
1,587 - 1,588 (2page)

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본고는 비젼 시스템에서 피사계 심도(depth of field)를 이용하여 전자 종이 같은 응용분야에 이용되는 마이크로 입자 카운팅 방법에 관한 것이다. 실험에서 평균 직경 10㎛의 마이크로 입자를 두 투명전극 사이에 스페이서(직경:125㎛)로 형성된 공간에 넣어 샘플을 제작하고, 샘플에 전계를 인가하여 입자를 상하판 사이에 위치하도록 하였다. 이 샘플 상단면에서 비젼 시스 ... 전체 초록 보기

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