메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
Jaeheon Han (강남대학교) Seungjin Yoo (강남대학교)
저널정보
대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications ICEIC : 2008
발행연도
2008.6
수록면
1,012 - 1,016 (5page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
Deflection behavior of silicon micromachined Fabry-Perot cavity interferometers have been studied and the fabricated devices are classified into three categories depending upon the shape and the location of the deflecting and sealed diaphragm. These are the planar bottom diaphragm, the planar top diaphragm, and the corrugated top diaphragm Fabry-Perot interferometers. The composite dielectric layers of the diaphragms have been optimized for proper mechanical stability and output optical response. Fabrication complexity and device characteristics have been compared to one another. Planar bottom diaphragm interferometers are the easiest to build, but their device characteristics are limited severely. On the other hand, corrugated top diaphragm interferometers are the most complicated to build, but performed best. This distinction can be explained by demonstrating two parasitic phenomena. These are the signal averaging effect and the zero pressure offset effect. Both phenomena are due to the non-planar bending behavior of a diaphragm. The existence and influence of these parasitic effects have been observed by real-time measurement of the diaphragm deflection.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Device Fabrication
3. Measurement Results
4. Real-time 3D analysis of diaphragm
5. Conclusions
Acknowledgments
References

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2012-569-004333690