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논문 기본 정보

저자정보
(King Mongkut Institute of Technology North Bangkok) (King Mongkut Institute of Technology North Bangkok)
저널정보
대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2007
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    The image from the Scanning Electron Microscopy (SEM) is effectively used to analyze the fine detail of object's surface in micrometer range. But the image from SEM has to be manually measured using the scale bar provided in the image as reference. Thus it can cause error in reading the length of the small object. In this paper, an algorithm, which uses MATLAB functions to implement, to a ... 전체 초록 보기

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