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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
송재훈 (트란소노) 오정섭 (한양대학교) 박성주 (한양대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 第48卷 SD編 第2號
발행연도
2011.2
수록면
44 - 54 (11page)

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본 논문에서는 AMBA 기반 SoC의 코어 테스트 시간을 최소화 하는 것을 목표로 한다. 이를 위하여 테스트 대상 코어에 대해 병렬로 테스트를 수행하며 AMBA를 TAM으로 재사용 하는데 있어서 필요한 기술을 제안한다. 기능 테스트시의 AMBA버스 제어를 위해 설계 된 TIC를 구조적 테스트 시의 제어에 재활용 하여 병렬 테스트의 제어에 필요한 추가 로직을 최소화 하였으며, 기능적 테스트를 수행할 수 있을 뿐만 아니라 구조적 테스트 시 병렬 테스트를 수행 할 수 있어서 SoC의 신뢰성 확보와 테스트 시간 단축에 기여 할 수 있다.
#SoC #AMBA #IEEE 1500 #parallel test #scan test

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. AMBA 테스트 인터페이스
Ⅲ. IEEE 1500
Ⅳ. AMBA 기반 SoC의 병렬 테스트 설계 기술
Ⅴ. 실험
Ⅵ. 결론
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