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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.4
- 수록면
- 189 - 190 (2page)
이용수
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3차원 측정기에 사용하기 위한 사용자 프로그램을 개발하였다. 기 개발된 백색광간섭계 ( White Light Scanning Interferometry : WSI ) 를 사용한 비접촉식 반도체 Wire Bonding 측정/검사 장비에 적용하여 개발된 프로그램의^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE01624871');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#
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