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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.6
- 수록면
- 26 - 31 (6page)
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본 논문에서는 LCD 제조공정 상에서 발생할 수 있는 결함을 검사하고 분류할 수 있는 적응적인 LCD 표면 결함 검사 시스템을 제안하였다. 즉, 반복되는 LCD 패턴의 주기를 확정한 후에 결함 패턴을 검출하고 검출된 결함 패턴의 특징을 계산하여 결함을 분류하였다. 그리고 결함을 검출하는 과정에서 발생하는 잡음은 모폴로지 연산자를 이용하여 제거하였다. 또한, 검출된 결함 패턴에서 기하학적인 특징과 통계적 특징을 계산한 후 신경회로망 알고리즘을 이용하여 여러 종류의 결함 패턴을 적응적으로 분류하였으며, 실험 결과 92.3%의 결함 검출율 및 94.5%의 결함 분류 및 인식율을 획득함으로써, LCD 결함 검사 시스템의 실질적인 구현 가능성을 제시하였다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안된 LCD 결함 검사 기법
Ⅲ. 실험 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (10)
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1. [학술지(정기간행물)] - Haruo Yoda / 1988 / An automatic wafer inspection system using pipelined image processing techni ques / IEEE T-PAMI 10 : 4 ~ 15
2. [학술지(정기간행물)] - 오종환 / 2007 / 인간 시각시스템의 주파수 감도를 이용한 TFT-LCD 결함 강조 / 전자공학회논문지 - SP 44 (5) : 20 ~ 27
3. [학술지(정기간행물)] - 고민석 / 2004 / LCD 표면 검사를 위한 라인스캔 영상의 재구성 / 전자공학회논문지 - SP 41 (04) : 497 ~ 502
4. [학술지(정기간행물)] - F. Torres / 1998 / Automated real-time visual inspection for high-resolution super imposed printings / Image and vision computing 16 : 947 ~ 958
5. [학술지(정기간행물)] - J. R. Parker / 1991 / Gray level thresholding in badly illuminated images / IEEE T-PAMI 13 : 813 ~ 819
2. [학술지(정기간행물)] - 오종환 / 2007 / 인간 시각시스템의 주파수 감도를 이용한 TFT-LCD 결함 강조 / 전자공학회논문지 - SP 44 (5) : 20 ~ 27
3. [학술지(정기간행물)] - 고민석 / 2004 / LCD 표면 검사를 위한 라인스캔 영상의 재구성 / 전자공학회논문지 - SP 41 (04) : 497 ~ 502
4. [학술지(정기간행물)] - F. Torres / 1998 / Automated real-time visual inspection for high-resolution super imposed printings / Image and vision computing 16 : 947 ~ 958
5. [학술지(정기간행물)] - J. R. Parker / 1991 / Gray level thresholding in badly illuminated images / IEEE T-PAMI 13 : 813 ~ 819
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