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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
박진성 (텔리즘) 이재민 (관동대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 第41卷 SD編 第3號
발행연도
2004.3
수록면
93 - 100 (8page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2004

확장 나무성장 그래프를 이용한 시스템 온 칩의 테스트 스케줄링 알고리듬
박진성 ,  이재민 전자공학회논문지-SD 2004.03 학술저널

2002

테스트 자원 그룹화를 이용한 시스템 온 칩의 테스트 스케줄링
박진성 ,  이재민 대한전기학회 학술대회 논문집 2002.11 학술대회자료
테스트 자원 그룹화를 이용한 시스템 온 칩의 테스트 스케줄링
박진성 ,  이재민 대한전기학회 학술대회 논문집 2002.11 학술대회자료

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#System-on-a-Chip #Test Scheduling #Tree Growing Graph #Test Modeling

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 테스트 스케줄링을 위한 SoC 모델링
Ⅲ. 제안하는 테스트 스케줄링
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (7)

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[학술지(정기간행물)] - C. Dislis / 1995 / Test Economics and Design for Testability google schola [학술지(정기간행물)] - Krishnendu Chakrabarty / 2000. / Test scheduling for core-based systems using mixed-integer linear programming 19 (10) : 1163 ~ 1174 google schola [학술지(정기간행물)] - Vikram Iyenger / 2001. / Precedence-based, preemptive, and power-constrained test scheduling for system-on-a-chip : 368 ~ 374 google schola [학술지(정기간행물)] - Zhao D / 2002.05 / Dynamically partitioned test scheduling for SoCs under power constraints google schola [학술지(정기간행물)] - Zhao D / 2002. / Minimizing concurrent test time in SoCs by balancing resource usage : 77 ~ 82 google schola

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