메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
백승엽 (대림대학교)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.20 No.5
발행연도
2011.10
수록면
666 - 672 (7page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
In this paper, we describes the development of automatic inspection system for detecting the defects on photovoltaic wafer by using machine vision. Until now, The defect inspection process was manually performed by operators. So these processes caused the produce of poorly-made articles and inaccuracy results. To improve the inspection accuracy, the inspection system is not only configured, but the image processing algorithm is also developed. The inspection system includes dimensional verification and pattern matching which compares a 2-D image of an object to a pattern image. the method proves to be computationally efficient and accurate for real time application. and we confirmed the applicability of the proposed method though the experience in a complex environment.
#Photovoltaic cell(태양 전지) #Vision Inspection(비전 검사) #Defects Detection(결함 검출) #Image Processing(영상처리) #Defects Pattern(결함 패턴)

목차

Abstract
1. 서론
2. 태양광발전의 원리 및 구성요소
3. 비전시스템의 구성 및 원리
4. 영상처리 알고리즘
5. 실험 및 고찰
6. 결론
참고문헌

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
1. [보고서] - Baik, J. H. / 2005 / Vision of Solar Cell Technology : 21 ~ 35 google schola 2. [학술지(정기간행물)] - Chou, P. B. / 1997 / Automatic Defect Classification for Semiconductor Manufacturing / Machine Vision and Application 9 (4) : 201 ~ 207 google schola 3. [단행본] - Tobin, K. W. / 1996 / Inspection in Semiconductor Manufacturing, Webster's Encyclopedia of Electrical and Electronic Engineering / Wiley & Sons : 242 ~ 263 google schola 4. [단행본] - Dana, H. / 1982 / Computer Vision / Prentice Hall google schola 5. [학술지(정기간행물)] - Martina, C. / 1999 / Multi-level Counters for Single-phase Grid Connected Photovoltaic System / Solar energy 66 (5) : 325 ~ 335 google schola

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

웨이퍼 표면 스크래치 검사용 조영 광학계 설계
김진환 ,  권원식 ,  최진두 외 2명 한국생산제조학회 학술발표대회 논문집 2011 .10
희소표현법과 딥러닝을 이용한 초고해상도 기반의 얼굴 인식
권오설 멀티미디어학회논문지 2018 .02
신재생에너지용 태양광 PCS 국내 기술기준 및 성능시험
윤용호 전기학회논문지 2018 .03
딥 러닝 기반 DASH 를 이용한 비디오 스트리밍 적용
김이슬 ,  문준우 ,  박경진 외 3명 한국HCI학회 학술대회 2018 .01
워드 임베딩 모델을 활용한 패션 트렌드 분석
이제원 ,  임훤 ,  임순범 한국HCI학회 학술대회 2018 .01

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-552-000796272