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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
이원택 (서강대학교) 김준일 (서강대학교) 장진우 (서강대학교) 지용 (서강대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2007년도 SOC 학술대회
발행연도
2007.5
수록면
112 - 115 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

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본 논문에서는 패키지 내부에서 일어나는 공진현상을 이용하여 144핀 FBGA 패키지의 유효 인덕턴스를 추출하는 방법을 제시하였다. 이를 추출하기 위하여 동시스위칭 잡음 파형에서 나타난 공진 주파수와 측정된 S-파라미터 곡선의 공진 주파수를 도출하여 이용하여 144핀 FBGA 패키지의 유효 인덕턴스 값이 4nH임을 얻을 수 있었다. 이 값은 HFSS 설계도구로부터 얻어진 S-파라미터를 이용하여 고주파 특성을 분석하여 추출한 인덕턴스 값과 같음을 볼 수 있었다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌

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