메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
박범석 (한국과학기술원) 김현정 (한국과학기술원) 배두환 (한국과학기술원)
저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2011가을 학술발표논문집 제38권 제2호(B)
발행연도
2011.11
수록면
124 - 127 (4page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
소프트웨어 제품라인은 효과적이고 시스템적인 재사용 방법을 통해 개발 비용을 줄여주고 품질을 높여주는 장점을 가지고 있다. 그러나 재사용 방법은 결함이 존재할 경우에는 여러 제품에 동시에 불량을 발생시키는 위험 또한 증가시킨다. 임베디드 소프트웨어는 하드웨어와도 밀접하게 관련되어, 결함으로 인한 불량 수정에 많은 비용이 소요 되지만, 기존 소프트웨어 제품라인의 테스트 기법 연구에서는 이러한 수리비용에 대한 고려가 반영 되지 않았다. 본 연구에서는, 임베디드 소프트웨어에 적용된 제품라인에서, 특히 도메인 테스팅 단계에서 빈번히 이루어 지는 회귀 테스트에서, 결함으로 인해 발생하는 수리비용을 최소화 할 수 있는 테스트 자원 할당 방법을 소개 한다.

목차

요약
1. 서론
2. 제품라인에서의 수리비용
3. 수리비용 기반 테스트 자원 할당 방법
4. 적용 예제
5. 관련 연구
6. 결론 및 향후 연구
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0