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자료유형
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저자정보
Seung-Kil Lim (성결대학교) Yong Ho Shin (인천대학교)
저널정보
대한산업공학회 산업공학 (IE interfaces) 산업공학 (IE interfaces) 제20권 제3호
발행연도
2007.9
수록면
277 - 287 (11page)

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Semiconductor manufacturing is one of the most complex and capital-intensive processes composed of several hundreds of operations. In today’s competitive business environments, it is more important than ever before to manage manufacturing process effectively to achieve better performances in terms of customer satisfaction and productivity than those of competitors. So, many semiconductor manufacturing companies implement advanced planning and scheduling (APS) system as a management tool for the complex semiconductor manufacturing process. In this study, we explain roles of production planning and scheduling in semiconductor manufacturing and principal factors that make the production planning and scheduling more difficult. We describe the APS system implementation project at Korean semiconductor manufacturing company in terms of key issues with realistic samples.
#productivity improvement #semiconductor manufacturing #advanced planning and scheduling #system implementation

목차

1. Introduction
2. Production Planning and Scheduling for Semiconductor Manufacturing
3. APS System Implementation at a Korean Semiconductor Company
4. Critical Issues in the APS Implementation Project
5. Concluding Remarks
References

참고문헌 (23)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Cunningham, S. P / 1995 / yield improvement: Results, and best practices 8 : 103 ~ 109 google schola 2. [학술지(정기간행물)] - Dabbas, R. M / 2001 / A combined dispatching criteria approach to scheduling semiconductor manufacturing systems 39 : 307 ~ 324 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - Elif Akcah, K. N / 2001 / Cycle-time improvements for photolithography process in semiconductor manufacturing 14 (1) : 48 ~ 56 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - Ellis, K. P / 2004 / Scheduling of wafer test processes in semiconductor manufacturing 42 (2) : 215 ~ 242 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - Freed, T / 1999 / Scheduling semiconductor device test operations on multi head testers 12 (4) : 523 ~ 530 google schola

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