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논문 기본 정보

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저자정보
김시형 (금오공과대학교) 김창만 (구미전자정보기술원) 남기창 (연세대학교) 김상희 (IT의료융합기술사업단) 송광섭 (금오공과대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제49권 10호
발행연도
2012.10
수록면
187 - 193 (7page)

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디지털 X-ray 영상 디텍터는 의료용 및 산업용으로 널리 이용되고 있다. 직접방식(direct method)의 디지털 X-ray 영상 디텍터는 X-ray 에너지를 전기적 신호로 변환하기 위하여 광도전체(photoconductor)를 이용하며 일반적으로 비정질 셀레늄(a-Se)을 사용하고 있다. 본 연구는 비정질 셀레늄 표면에 파장 486 ㎚의 전자방사선을 조사할 경우 내부에서 일어나는 물리적 현상들을 분석하기 위하여 2차원 소자 시뮬레이터을 이용하였다. 시뮬레이션 결과를 통해 비정질 셀레늄 내부 전자-정공 생성율, 전자-정공 재결합율, 전자/정공 분포에 대한 분석을 수행하였다. 사용된 시뮬레이터는 디바이스 내부를 삼각형으로 나누어 보간법을 사용하여 계산하는 방식이다. 본 시뮬레이션 방법은 직접방식 디지털 X-ray 영상 디텍터 분석을 위하여 처음으로 제안되었고 유용한 방법이다. 이러한 2차원 소자 시뮬레이터를 이용한 연구방법은 향후 디지털 방사선 영상 디텍터 개발에 많이 응용될 것으로 예상된다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (14)

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