지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2013.2
- 수록면
- 143 - 149 (7page)
- DOI
- 10.14801/kiitr.2013.11.2.143
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
프로세스 코어의 지속적 작업 부하는 NBTI 현상으로 인한 스트레스 상황을 악화시켜 결과적으로 전체 시스템의 수명과 성능을 저하시킨다. 특히 매니코어 환경에서는 제작 공정이나 고밀도 구조상 NBTI로 인한 코어간 수명 불일치가 유발하는 시스템 신뢰성 문제가 크게 대두될 것으로 보인다. 이에 본 논문에서는 고밀도 매니코어 구조에서 NBTI 정보로 활용되는 Capacity Rate(CR)를 기반으로 코어별 부하를 고루 분산하여 전체 시스템의 신뢰성 확보 및 수명을 연장할 수 있는 방법을 제안하였다. 제안하는 방식은 크게 최대 CR 매핑 단계와 경계 CR 전달 단계로 구분되며, 실험 결과 기존 방식 대비 수행시간을 크게 단축하면서도 유사한 부하 분산 성능을 제공하여 매니코어 플랫폼용 알고리즘으로 그 우수함이 증명되었다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존 연구
Ⅲ. NBTI를 고려한 매니코어 부하 분산 기법
Ⅳ. 실험 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
참고문헌 (16)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - S. Borkar / 2007 / Thousand Core Chips-A Technology Perspective / Proc of DAC : 746 ~ 749
2. [학술지(정기간행물)] - 김영우 / 2010 / 고성능 프로세서 기술 동향 / 전자통신동향분석 25 (5) : 123 ~ 136
3. [인터넷자원] - R. Hazra / / The Explosion of Petascale in the Race to Exascale
4. [학술대회논문] - 임재일 / 2012 / 전압하한선을 이용하여 NBTI를 고려한 DVFS 방법 / SOC학술대회
5. [학술대회논문] - X. Yang. / 2007 / On NBTI Degradation Process in Digital Logic Circuits / Proc. of VLSID : 723 ~ 730
2. [학술지(정기간행물)] - 김영우 / 2010 / 고성능 프로세서 기술 동향 / 전자통신동향분석 25 (5) : 123 ~ 136
3. [인터넷자원] - R. Hazra / / The Explosion of Petascale in the Race to Exascale
4. [학술대회논문] - 임재일 / 2012 / 전압하한선을 이용하여 NBTI를 고려한 DVFS 방법 / SOC학술대회
5. [학술대회논문] - X. Yang. / 2007 / On NBTI Degradation Process in Digital Logic Circuits / Proc. of VLSID : 723 ~ 730
이 논문의 저자 정보
이 논문과 함께 이용한 논문
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-566-000305839