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대한전자공학회 ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications International Conference on Electronics, Informations and Communications (ICEIC) 1991, Vol. 1
발행연도
1991.8
수록면
163 - 167 (5page)

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목차

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Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Overview of the memory faults
Ⅲ. Fault Testing Algorithm of RAM
Ⅳ. Experimental Results
Ⅴ. Conculution
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