고출력 형광체변환 백색 LED 패키지의 가속시험

천성일; 윤양기; 장중순

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자료유형: 학술저널

저자정보: 천성일 (전자부품연구원) 윤양기 (한국기계전기전자시험연구원) 장중순 (아주대학교)

저널정보: 한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제10권 제2호

발행연도: 2010.6

수록면: 137 - 148 (12page)

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This study deals with the accelerated life test of high power phosphor converted white Light Emitting Diodes (High power LEDs). Samples were aged at 110 ℃/85% RH and 130℃/85% RH up to 900 hours under non-biased condition. The stress induced a luminous flux decay on LEDs in all the conditions. Aged devices exhibited modification of package silicon color from white to yellowish brown. The instability of the package contributes to the overall degradation of optical lens and structural degradations such asgenerating bubbles. The degradation mechanisms of lumen decay and reduction of spectrum intensity were ascribed to hygro-mechanical stress which results in package instabilities.

#Accelerated Test #LED #failure mechanism #discoloration

참고문헌 (25)

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1. [학술지(정기간행물)] - Dupuis, R. D / 2008 / History,Development,and Applications of High-Brightness Visible Light-Emitting Diodes / J. Lightwave Technol. 26 (9) : 1154 ~ 1171

2. [단행본] - Hardy, K. R / 2008 / Advances in High Brightness Light Emitting Diodes in Underwater Application / Oceans : 1 ~ 5

3. [학술대회논문] - Hui, S. Y. R / 2010 / A Novel Passive Off-line Light-Emitting Diode(LED) Driver with Life Time / 25th IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC) : 594 ~ 600

4. [학술지(정기간행물)] - Hsu, Y. C / 2008 / Failure Mechanism Associated With Lens Shape of High Power LED Modules in Aging Test / IEEE T. Electron Dev. 55 (2) : 689 ~ 694

5. [학술지(정기간행물)] - Liu, Z / 2009 / Optical Analysis of Phosphor's Location for High-Power Light-Emitting Diodes / IEEE T. Device Mat. Re. 9 (1) : 65 ~ 73

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천성일

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윤양기

소속기관 한국기계전기전자시험연구원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 공학 > 산업공학

논문수 15 이용수 1,599

장중순

소속기관 아주대학교

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