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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.6
- 수록면
- 1,117 - 1,122 (6page)
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본 논문에서는 온도 센서 및 온도 측정을 위한 제어회로를 설계하였다. 설계된 회로는 기존의 방법들과는 달리 일반적인 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 공정에서 추가 공정없이 제작 가능하도록 설계하였으며, 온도는 디지털 값으로 출력 되도록 구성하였다. 설계되어진 회로는 5volts 공급전압을 사용하였으며, 0.5 ㎛ CMOS 공정을 사용하였다. 온도 측정을 위한 회로는 PWM(Pulse Width Modulation) 제어회로, VCO(Voltage controlled oscillator), 카운터 그리고 레지스터로 구성되어 있다. PWM 제어회로의 동작 주파수는 23kHz 이며, VCO의 동작 주파수는 416kHz, 1MHz, 2MHz를 사용하였다. 회로의 동작은 SPICE(Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis)를 사용하여 확인 하였다.
목차
요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 온도센서 및 측정회로
Ⅲ. 온도센서 회로의 특성 및 분석
Ⅳ. 결론
참고문헌
참고문헌 (9)
참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - J. Altet / 1998 / BiCMOS Thermal Sensor Circuit for Built-in Test Purposes / Electronics Letters 34 (13) : 1307 ~ 1309
2. [학술지(정기간행물)] - Cleys. W / 1994 / Microelectron Eng / Microelectron Eng.,pp.441-420 : 441 ~ 420
3. [학술대회논문] - Altet. J / 1997 / Analysis of the feasibility of dynamic thermal testing in digital circuits / Proc. 6th. Asian Test Symp. : 149 ~ 154
4. [학술지(정기간행물)] - M. Tuthill / 1996 / A Switched Crrrent, Switched Capacitor Temperature Sensor in 0.6㎛ CMOS / IEEE J. Spolid_State Circuits 33 (7)
5. [학술지(정기간행물)] - M. A. P. Pertijs / 2005 / A CMOS Smart Temperature Sensor with a 3σ Inaccuracy of ±0.5oC from -50oC to 120oC / IEEE J. Solid-State Circuits 40 (2)
2. [학술지(정기간행물)] - Cleys. W / 1994 / Microelectron Eng / Microelectron Eng.,pp.441-420 : 441 ~ 420
3. [학술대회논문] - Altet. J / 1997 / Analysis of the feasibility of dynamic thermal testing in digital circuits / Proc. 6th. Asian Test Symp. : 149 ~ 154
4. [학술지(정기간행물)] - M. Tuthill / 1996 / A Switched Crrrent, Switched Capacitor Temperature Sensor in 0.6㎛ CMOS / IEEE J. Spolid_State Circuits 33 (7)
5. [학술지(정기간행물)] - M. A. P. Pertijs / 2005 / A CMOS Smart Temperature Sensor with a 3σ Inaccuracy of ±0.5oC from -50oC to 120oC / IEEE J. Solid-State Circuits 40 (2)
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