부울 미분을 이용한 다치 논리 회로에서의 결함 해석 ( Fault Analysis in Multivalued Combinational Circuits Using the Boolean Difference Concept )

류광렬 ,  김종상

전자공학회지

1981 .02

혼돈 회로를 이용한 다치 논리회로 ( Application of Multivalued Logic Using Chaotic Circuit )

양일석 ,  정호선

대한전자공학회 학술대회

1993 .01

전류모드 CMOS에 의한 다치논리회로의 설계 ( Design of Multivalued Logic Circuits using Current Mode CMOS )

성현경 ,  강성수 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1988 .07

전류모드 CMOS에 의한 다치논리회로의 설계

성현경 ,  강성수 ,  김흥수

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .07

A FAULT MODEL FOR MULTIVALUED PLA`S

Yasuno ,  i Nagata ,  Chushin Afuso

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1992 .01

Labeling Scheme for Fault Simulation of Combinational Circuits

Han Heung Kim ,  S. H. Hwang ,  Chong Min Kyung

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1991 .01

I2L회로에 의한 다치이론함수의 설계 ( Design of Multivalued Logic Functions Using I2L Circuits )

김흥수 ,  성현경

전자공학회지

1985 .07

Fault Detection of Digital Systems by Using Boolean Difference

임인칠 ,  이양희 ,  김한우

(구)정보과학회논문지

1977 .07

ROM 구조의 전류모드 CMOS에 의한 다치 논리회로의 설계 ( Design of Multivalued Logic Circuit using Current Mode CMOS with ROM Structure )

유인권 ,  성현경 ,  강성수 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Non-Boolean 성질을 갖는 암호 알고리즘의 조합 처리 로직 설계 기법

김동수 ,  이상이 ,  김영봉

대한전자공학회 학술대회

2006 .11

I2L 배열에 의한 다치논리 회로의 설계 ( Design of Multivalued Logic Circuits using I2L Array )

유인권 ,  성현경 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

I²L 배열에 의한 다치논리 회로의 설계

유인권 ,  성현경 ,  김흥수

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

ROM 構造의 I²L에 의한 多値論理回路의 設計

李鍾元 ,  成賢慶

한국통신학회논문지

1985 .02

多値組合論理回路의 故障診斷에 關한 硏究

임인칠 ,  이재민

한국정보과학회 학술발표논문집

1981 .04

Output Signal Probability from a Combinational Circuit

Byung Ho Jo ,  Hee Yeung Hwang

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1990 .01

조합논리회로의 결합검출 ( Fault Detection in Combinational Circuits )

고경식 ,  허웅

전자공학회지

1974 .11

多値 組合論理回路의 故障診斷에 관한 硏究

임인칠 ,  이재민

(구)정보과학회논문지

1981 .11

HAzard-Free 다치 논리회로

임인칠 ,  이수영

대한전자공학회 학술대회

1978 .01

조합논리회로의 결함검출시험에 관한 연구 ( A Study on Fault Detection Tests for Combinational Logic Networks )

최흥문

전자공학회지

1978 .01

조합논리회로의 다중결함검출 ( Multiple Fault Detection in Combinational Logic Networks )

고경식 ,  김흥수

전자공학회지

1975 .08