Mixed-Level CMOS 회로의 고속 고장 시뮬레이션 ( Fast Fault Simulation for Mixed-Level CMOS Circuits )

박은세 ,  이명기 ,  박영호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS 회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘 ( A New Test Generation Algorithm for Detection of Faults in CMOS Circuits )

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

CMOS회로의 고장 검출을 위한 테스트 생성 알고리즘

김윤홍 ,  이재민 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정 ( Fault Detection and Location of CMOS circuits using Current Testing Techniques )

이재웅 ,  안철회 ,  이광훈 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

전류 테스팅 기법을 이용한 CMOS 회로의 고장 검출 및 위치 결정

이재웅 ,  안철희 ,  이광훈 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성 ( Mixed-level Test Generation for CMOS Circuits using Path Algebra )

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

경로대수를 이용한 CMOS 회로의 혼합레벨 테스트 생성

권중석 ,  이인학 ,  손윤식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

1993 .11

고속 혼성모드 집적회로를 위한 온-칩 CMOS 전류 및 전압 레퍼런스 회로

조영재 ,  배현희 ,  지룡 외 1명

전자공학회논문지-SC

2003 .05

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

CMOS 최적 회로 합성기 연구 ( An Optimized Sizing Program for CMOS Circuits )

장영조 ,  이철동

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01

CMOS LC VCO Using 0.18 μm Mixed Signal CMOS Process

Minseok Choi ,  Youngho Jung ,  Hyungcheol Shin

대한전자공학회 ISOCC

2006 .10

저전력 CMOS 기준전류 발생회로

김유환 ,  권덕기 ,  이종렬 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

CMOS 회로 합성기에 대한 연구 ( Research on Circuit Synthesizer in CMOS )

장영조 ,  이철동 ,  유영욱

한국통신학회 학술대회논문집

1987 .01

CMOS 논리회로의 Multiple Stick-Open 고장 검출 ( The Multiple Stuck-Open Fault Detection in CMOS Logic Circuits )

김영호 ,  민병현 ,  노승용 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

저전력 CMOS 기준전압 발생 회로 ( A Low-Power CMOS Voltage Reference Circuit )

권덕기 ,  오원석 ,  김동환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

완전 자체 검증 CMOS 회로 설계

김정범 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

완전 자체 검증 CMOS 회로 설계 ( Design of a Totally Self-Checking CMOS Circuit )

김정범 ,  홍성제 ,  김종

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

CMOS 테스트를 위한 Built-In Self-Test 회로 설계 ( A Built-In Self-Test Method for CMOS Circuits )

김윤홍 ,  임인칠

전자공학회논문지-B

1992 .09