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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
윤현식 (한밭대학교) 강태근 (한밭대학교) 이현빈 (한밭대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제52권 6호
발행연도
2015.6
수록면
70 - 76 (7page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2015

FPGA 경계 스캔 체인을 재활용한 FPGA 자가 테스트 회로 설계
윤현식 ,  강태근 ,  이현빈 전자공학회논문지 2015.06 학술저널
프로세서 기반 온-보드(on-board) FPGA 테스트를 위한 FPGA 경계 스캔 셀 재사용 연구
윤현식 컴퓨터工學科 2015.01 학위논문

초록· 키워드

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본 논문은 FPGA 내부의 경계 스캔 체인을 자가 테스트 회로로써 재활용하기 위한 FPGA 자가 테스트 회로 설계 기술을 소개한다. FPGA의 경계 스캔 체인은 테스트나 디버깅 기능뿐만 아니라 각 셀에 연결되어 있는 입출력 핀의 기능을 설정하기 위해서도 사용되기 때문에 일반적인 칩의 경계 스캔 셀보다 매우 크다. 따라서, 본 논문에서는 FPGA 경계 스캔 셀의 구조를 분석하고 소수의 FPGA 로직과 함께 테스트 패턴 생성과 결과 분석이 가능하도록 설계한 BIST(built-in-self-test) 회로를 제시한다. FPGA의 경계 스캔 체인을 자가 테스트를 위하여 재사용함으로써 면적 오버헤드를 줄일 수 있고 보드상에서 프로세서를 사용한 온-라인(on-line) 테스트/모니터링도 가능하다. 실험을 통하여 오버헤드 증가량과 시뮬레이션 결과를 제시한다.
#FPGA #Built-in self test #BIST #Boundary-scan chain #IEEE 1149.1 #I/O block

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 관련 연구
Ⅲ. 프로세서 기반 온-보드 FPGA 테스트
Ⅳ. 실험
Ⅴ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (12)

참고문헌 신청
[기타자료] - Sony Corporation / 2000 / Sony Semiconductor Quality and Reliability Handbook google schola [기타자료] - / 2008 / Renesas Electronics, Semiconductor Reliability Handbook, Rev.1.01 google schola [학술지(정기간행물)] - 박영규 / 2013 / IEEE 1500 표준 기반의 효율적인 프로그램 가능한 메모리 BIST / 전자공학회논문지 50 (2) : 114 ~ 121 dbpia [기타자료] - / 2005 / IEEE 1149.1 JTAG Boundary-Scan Testing in Altera Devices / Application Note, no. 39 google schola [학술대회논문] - M. Abramovici / 1999 / Using Roving STARs for On-Line Testing and Diagnosis of FPGAs in Fault-Tolerant Applications / Int. Test Conf.(ITC) : 973 ~ 982 google schola

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