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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김태진 (한남대학교) 최진규 (한남대학교)
저널정보
한국정보기술학회 한국정보기술학회논문지 한국정보기술학회논문지 제13권 제10호(JKIIT, Vol.13, No.10)
발행연도
2015.10
수록면
25 - 30 (6page)
DOI
10.14801/jkiit.2015.13.10.25

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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본 연구는 산업현장에서 사용되는 비파괴검사 방식 중 와전류탐상 방식의 스위칭 잡음과 신호왜곡을 개선하는 회로 개발에 관한 연구다. 와전류탐상방식에서 일반적으로 사용 중인 아날로그 스위칭에 의한 샘플링 방식을 아날로그 곱셈기와 RMS 변환기를 이용하여 신호 대 잡음 비율을 개선하는 방식을 제안하고 회로를 개발하고 성능을 측정하였다. 연구 결과 제안한 흠 검출 회로는 아날로그 스위칭에 의한 샘플링 방식 보다 신호대 잡음비가 2배 개선되고 신호 왜곡 또한 개선된 것을 확인할 수 있다. 또한 제안된 회로는 기존의 검출 사양보다 미세한 흠이 검출 가능하며, 검사 대상체와 센서 간 거리도 기존 방식보다 증대되어 접촉에 의한 센서파손 위험이 감소되었다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기초이론
Ⅲ. 아날로그 연산회로를 이용한 와전류 탐상회로
Ⅳ. 결론
References

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