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저널정보
한국경영과학회 한국경영과학회 학술대회논문집 한국경영과학회 2007년 춘계공동학술대회 논문집
발행연도
2007.5
수록면
1,130 - 1,134 (5page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2007

웨이블릿을 이용한 주기성 신호를 가지는 공정의 이상 탐지 및 진단
이재현 ,  윤지명 ,  김지형 외 1명 한국경영과학회 학술대회논문집 2007.05 학술대회자료
웨이블릿을 이용한 주기성 신호를 가지는 공정의 이상 탐지 및 진단
이재현 ,  윤지명 ,  김지형 외 1명 대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집 2007.05 학술대회자료

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목차

Abstract
1. 서론
2. 웨이블릿 변환(Wavelet Transform)
3. 웨이블릿을 이용한 SPC 탐지 알고리즘
4. 공정 이상 형태와 스케일 계수와 상세 계수의 조합의 관계
5. 실험 및 결과 검증
6. 결론
참고문헌

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