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한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제10권 제1호
발행연도
2009.1
수록면
75 - 80 (6page)

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번인 시험(burn-in test)은 초기 장애가 예측되는 반도체 소자들을 제거하기 위한 시험으로서, 보통 소자에 전압, 온도 및 시간 등의 가혹 조건을 가하며 행해진다. 이런 변인 시험을 위해서는 시험할 소자들을 가진 변인 보드들을 해당 슬롯(slot)들에 삽입할 필요가 있다. 이런 슬롯들의 집합을 존(zone)이라 부른다. 한 존을 구성하는 슬롯들은 동종 반도체 소자들을 가진 번인 보드들만을 가질 수 있다. 따라서 많은 이종 반도체 소자들의 시험을 위해서는 존 수가 많도록 번인 시험 시스템을 구성하는 것이 바람직하다. 존을 제어하는 존 컨트롤러는 번인 시험을 수행하고 결과를 수집하는 장치이다. 기존 시스템의 경우, 각 존 컨트롤러는 일정 수의 슬롯들로 구성된 한 존의 시험을 담당한다. 대개, 존 컨트롤러는 번인 시험의 전반을 통제하는 한 워크스테이션 내에 내장되어 있으므로 이들의 추가는 물리적 공간의 제약을 받는다. 본 논문은 이런 문제들의 해결이나 완화를 위한 한 방법으로서 존의 슬롯 수를 동적으로 할당할 수 있는 동적 존 시스템을 제안한다. 이 시스템은 존의 슬롯 수를 가변시켜 빈 슬롯을 최소화함으로써 시스템의 운영 효율을 극대화한다. 또한 기존 시스템의 경우에는 정비를 위해 진행 중인 시험을 모두 중지시켜야 하지만, 동적 존 시스템의 경우에는 시스템에 전력을 공급하는 주 전원이 문제가 되지 않는다면 슬롯별로 개별적인 유지보수가 가능하다.
#Burn-in Test #Semiconductor Failure #Dynamic Zone Allocation

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1. [단행본] - 강성호 / 2001 / 메모리 테스트 / 대영사 google schola 2. [단행본] - Robert L. Gussman / 1992 / Automated burn-in system / Reliability Inc. google schola 3. [학술지(정기간행물)] - Hanson / 1977 / Environmental Test Chamber for Circuit Card / IBM Tech. Disc. Bull 20 (5) : 1837 ~ 1838 google schola 4. [단행본] - James I. Bradshaw / 1983 / Burn-in chamber / Reliability Inc google schola 5. [학술지(정기간행물)] - 유장우 / 2005 / IC 신뢰성 향상을 위한 내장형 고장검출 회로의 설계 및 제작 / 전기전자재료학회논문지 18 (5) : 431 ~ 438 dbpia

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