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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
이승민 (경북대학교) 박길흠 (경북대학교)
저널정보
한국지능시스템학회 한국지능시스템학회 논문지 한국지능시스템학회 논문지 제28권 제3호
발행연도
2018.6
수록면
225 - 230 (6page)
DOI
10.5391/JKIIS.2018.28.3.225

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TFT-LCD 영상에서 결함을 검출하기 위해, 배경화소와 결함화소 간의 특징을 분석하여 임계값을 결정하는 다양한 연구가 지속되어 왔다. 그 중 STD(Standard Deviation) 방법은 영상의 평균과 표준편차를 기반으로 배경 영역의 휘도분포를 추정하고, 이를 기반으로 임계값을 결정하는 방법이다. 그러나 결함의 크기나 휘도값이 불확실한 경우, 임계값 결정에 사용되는 가중치의 변화에 민감한 문제가 남아있다. 본 논문에서는 배경영역의 휘도분포를 추정함에 있어서 결함화소의 분포에 강인한 편차를 측정하는 방법을 제안한다. 이에 대한 방법으로, 편차의 평균을 이용한 AAD(Average Absolute Deviation) 방법과 편차의 중간값을 이용한 MAD(Median Absolute Deviation) 방법이 있다. 본 논문에서는 이 중 MAD 방법을 이용하며, 특히 TFT-LCD 영상의 휘도에 대한 히스토그램에 기반한 HMAD를 제안하여 알고리즘의 효율성을 개선한 방법을 제안한다. 기존 MAD 방법에 비해 수행시간이 약 85% 감소하였으며, AAD보다 빠른 수행속도를 확인할 수 있었다. 또한 영상의 크기가 커질수록 HMAD 방법의 효율은 증가함을 확인할 수 있었다.
#TFT-LCD #결함 검출 #STD #AAD #MAD #HMAD #Defect detection

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. TFT-LCD 영상의 특성
3. 결함 검출 방법
4. 실험 및 고찰
5. 결론 및 향후 연구
References

참고문헌 (8)

참고문헌 신청
M. Lysaker, S. Osher and X. C. Tai, “Noise Removal Using Smoothed Normals and Surface Fitting,” IEEE Transactions on Image Processing, vol. 13, no. 10, pp. 1345-1357, pp. Oct. 2004. S. Y. Kim, C. D. Jung, Y. C. Song and K. H. Park, “Intensity Flow Estimation of Thin Film Transistor Liquid Crystal Display Panel Surface Image Using Multiweighted Morphology Pairs,” Japanese Journal of Applied Physics, vol. 49, no. 6R, pp. 066601, Jun. 2001. N. Otsu, “A Threshold Selection Method from Gray-Level Histograms,” IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics, vol. 9, no. 1, pp. 62-66, Jan. 1979. W. S. Kim, D. M. Kwak, Y. C. Song, D. H. Choi and K. H. Park, “Detection of Spot-Type Defects on Liquid Crystal Display Modules,” Key Engineering Materials, vol. 270-273, pp. 808- 813, Jan. 2004. S. M. Lee, T. H. Kim and K. H. Park, “Sequential Defect Detection According to Defect Possibility in TFT-LCD Panel Image,” Journal of The Institute of Electronics and Information Engineers, vol. 51, no. 4, pp. 123-130, Apr. 2014.

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이승민 ,  박길흠 Journal of Advanced Marine Engineering and Technology (JAMET) 2017 .11

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