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대한전기학회 정보 및 제어 논문집 대한전기학회 CICS´ 18 정보 및 제어 학술대회
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    본 논문은 자동 광학 검사 장비(AOI, Automatic Optical Inspection)으로부터 촬영한 전자 부품 이미지를 사용하여 전자 부품의 불량을 분류하는 연구에 관한 것이다. 인쇄 회로 기판(PCB, Printed Circuit Board)에 ... 전체 초록 보기

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      UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-560-000084253