메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
서병준 (부경대) 박권식 (부경대) 조광래 (부경대) 노의철 (부경대) 김흥근 (경북대) 전태원 (울산대) 김태진 (한국전기연구원) 이종필 (과학기술연합대학원)
저널정보
전력전자학회 전력전자학회논문지 전력전자학회 논문지 제23권 제6호
발행연도
2018.12
수록면
433 - 439 (7page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (4)

초록· 키워드

오류제보하기
This study considers the design of a submodule test circuit for the modular multi-level converter (MMC)-based HVDC systems. A novel submodule test circuit is proposed to provide not only an AC but also a DC component to the submodule current. However, the current waveforms depend on the capacitor voltages. Therefore, determining the capacitance value of the test circuit is important. Finding a proper capacitance value is easy when the proposed analysis method is used. Simulation and experimental results show the usefulness of the proposed method.

목차

Abstract
1. 서론
2. 서브모듈 시험회로 분석
3. 시험회로 설계
4. 시뮬레이션 결과
5. 실험 결과
6. 결론
References

참고문헌 (7)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-560-000150078