메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
최한솔 (한동대학교) 홍신 (한동대학교)
저널정보
Korean Institute of Information Scientists and Engineers Journal of KIISE Journal of KIISE Vol.46 No.4
발행연도
2019.4
수록면
341 - 354 (14page)
DOI
10.5626/JOK.2019.46.4.341

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
단위 테스트 케이스를 이용한 자동 회귀 테스팅 방법론이 널리 사용됨에 따라, 단위 테스트 케이스 작성 중 발생하는 ‘테스트 코드 결함’이 소프트웨어 제품의 품질과 프로젝트의 생산성을 저하하는 새로운 소프트웨어 품질 문제로 대두되고 있다. 이러한 단위 테스트 코드 결함의 체계적인 이해와 탐지를 위하여, 본 논문에서는 Java 프로그램 단위 테스트 케이스 결함을 분류하는 결함 분류 체계와 실제 결함사례에 기반한 단위 테스트 케이스 결함 패턴을 소개한다. 테스트 케이스 결함에 대한 단편적인 분류 기준을 제시하는 기존 연구와 달리, 본 연구에서는 단위 테스트 코드의 다양한 구조적, 기능적, 의미적 구성요소의 범주를 제시한 후 이에 기반한 총체적인 분류 체계를 제안하며, 이를 이용해 실제 결함 사례와 정적 결함 검출기의 검출대상을 분류한 결과 소개한다. 이에 더하여, 본 논문에서는 실제 테스트 결함 사례로부터, 테스트 코드 결함의 주요 조건을 구체적이고 명확하게 표현한 새로운 8종의 테스트 결함 패턴을 소개한다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 단위 테스트 코드의 구성
3. 단위 테스트 결함 분류 체계
4. 단위 테스트 코드 결함 패턴
5. 관련연구
6. 결론
References

참고문헌 (23)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-569-000572004