메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Saemi Yun (Daegu University) Kyeongjun Lee (Daegu University)
저널정보
한국데이터정보과학회 한국데이터정보과학회지 한국데이터정보과학회지 제30권 제4호
발행연도
2019.7
수록면
933 - 942 (10page)
DOI
10.7465/jkdi.2019.30.4.933

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
The problem of examining how well a assumed distribution fits the data of a sample is of significant that has to be examined prior to any inferential process. In this paper, a new goodness-of-fit test for an exponential distribution based on progressive censored data is proposed. Using Monte Carlo simulation studies, the present researchers have observed that the proposed test for exponentiality is consistent and quite powerful in comparison with existing goodness-of-fit tests based on progressive censored data. Also, the new test statistic for a real data set is used and the results show that our new test statistic performs well.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Proposed tests
3. Illustrative examples and simulation results
4. Conclusions
References

참고문헌 (10)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-041-000951453