아두이노를 이용한 온도시험 장비 오동작 감시 시스템 설계 및 구현

윤명섭; 박구락; 고창배

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자료유형: 학술저널

저자정보: 윤명섭 박구락 고창배

저널정보: 한국디지털정책학회 디지털융복합연구 디지털융복합연구 제14권 제5호

발행연도: 2016.1

수록면: 317 - 323 (7page)

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본 논문에서는 아두이노를 이용하여 온도시험 장비의 오동작이 발생이 되면, 이를 검출하여 주변에 이 정보를 알려 고가의 정밀 전자제품의 훼손을 방지할 수 있는 시스템을 제안한다. 정밀 전자제품은 출고전에 온도시험 장비를 이용하여 극저온, 극고온 온도 상황하에서 정상동작 여부를 확인하게 된다. 만약 이 상황하에서 장비의 오동작이 발생되면 고가의 제품이 손상을 입어 폐기하는 경우가 생긴다. 이 시스템은 특히 야간에 담당자가 없이 자동으로 시험이 진행될 때에 온도시험 장비 내에 온도 센서를 부착하여 시험 대상인 제품이 실제로 받고 있는 온도 정보를 아두이노를 이용하여 실시간으로 감시한다. 만약 시험자가 설정한 온도구간을 벗어날 경우 아두이노의 출력단에서 High 신호를 출력하여 경보 구동회로가 온도시험 장비의 전원을 차단하고 야간 근무부서의 근무자에게 이 정보를 알려, 온도 시험 중 발생할 수 있는 극고온 혹은 극저온 상황에서 고가의 시험대상 제품의 훼손을 방지할 수 있도록 설계 및 구현을 하였다. 본 논문에서 제안한 시스템은 장비의 제조사에 관계없이 모든 온도시험 장비에 적용가능하고, 저비용으로 제작 가능하다.

#아두이노 #솔더링 #온도시험 #정밀 전자제품 #ESS #Arduino #Soldering #Temperature test equipment #Precision Electronics #ESS

참고문헌 (17)

참고문헌 신청

1993 / MIL-HDBK-344A, Environmental Stress Screening of Electronic Equipment, Military Hand book / United States Department of Defense

http://terms.naver.com/entry.nhn?docId=303672&cid=50305&categoryId=50305

Bruce Peterson / Environmental Stress Scree ning Tutorial / Accolade Engineering Solutions

J. S. Choi / 2012 / Study on Designing ESS Process and Baseline Regimen on Electronic Equipment / Journal of Control, Automation and Systems 2012 :933~941

M. S. Yoo / 2013 / ESS Model Research to optimize for Weapon System Reliability Evaluation and Quality Verification / Korean Institude of industrial Engineer :419~423

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