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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제22권 제11호
발행연도
2009.1
수록면
956 - 960 (5page)

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The characteristics of organic films can be affected by the temperature of evaporation source because the temperature of evaporation source has an effect on substrate temperature during OLED fabrication process using the thermal evaporation. To investigate the characteristics of OLED devices fabricated by using thermally damaged organic films, I-V-L and half life-time in OLED devices fabricated with various substrate temperatures were measured. During emission layer(EML) evaporation, OLED devices with a structure of ITO(100 ㎚)/ELM200(50 ㎚)/NPB(30 ㎚)/Alq3(55 ㎚)/LiF(0.7 ㎚)/Al(100 ㎚) were fabricated at various substrate temperatures(room temperature, 30℃, 40℃, and 50℃). The characteristics of current density and luminance versus applied voltage in OLED devices fabricated shows that many electrical currents flowed and high brightness appeared at low voltage, but that the lifetime of OLED devices dropped suddenly. This phenomenon explained that the crystallization of Alq3 thin film appeared owing to the substrate heating during evaporation.

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