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학술저널
저자정보
Beom-sik Kim (Chungbuk National University) Hee Jae Kang (Chungbuk National University) Soonjoo Seo (Korea Basic Science Institute) Nam Seok Park (Chungbuk Health & Science University)
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology Applied Science and Convergence Technology Vol.25 No.2
발행연도
2016.3
수록면
28 - 31 (4page)

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The structural and the electronic properties of pentacene on modified Si (001) were investigated using scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and ultraviolet photoelectron spectroscopy (UPS). Dodecane was used to modify Si (001) substrates and then pentacene was deposited on dodecane/Si (001). Our STM results show a uniform distribution of aggregated dodecane molecules all over the clean Si (001). The surface structure of pentacene on dodecaene/Si (001) examined by AFM is analogous to that of pentacene on SiO2. The UPS data showed that the work function of pentacene on clean Si (001) and pentacene on modified Si (001) with dodecane was 6.41 and 5.57 eV, respectively. Our results prove that dodecane results in the work function difference between pentacene on clean Si (001) and pentacene on dodecane/Si (001).

목차

Abstract
I. Introduction
II. Experimental
III. Results and Discussions
IV. Conclusions
References

참고문헌 (15)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-420-001276014