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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2020.2
- 수록면
- 64 - 70 (7page)
- DOI
- 10.7232/JKIIE.2020.46.1.064
이용수
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Smart Factory is a manufacturing method that combines ICT (Information & Communication Technology) to improve the competitiveness of the existing manufacturing industry in a changing the market environment. Among the technologies of Smart Factory, Machine Vision consists of camera, image board, optics and image processing software. It aims at automated inspection and process efficiency. In this paper, we propose a system that classifies CCM defects based on machine learning. We divided the CCM regions and derived the result using a defect judgment algorithm for each region. SVM was used in the machine learning method, and the classification accuracy was 95.4% based on 100 untrained data.
목차
1. 서론
2. 본론
3. 실험 결과
4. 결론 및 향후 연구
참고문헌
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
Jeong, Y. S. (2019), A Model Design for Enhancing the Efficient of Smart Factory for Small and Medium-Sized Businesses Based on Artificial Intelligence, Journal of Convergence for Information Technology, 9(3), 16-21
Jung, M. C. (2010), Study on Machine Vision Algorithms for LCD Defects Detection, Journal of the Semiconductor & Display Technology, 9(3), 59-63
Ko, K. W., Lee, Y. J., Choi, B. W., and Koh, K. C. (2004), CCM (Compact Camera Module) Defect Inspection, Proceedings of the Korea Society for Precision Engineering Conference, 585-589.
Ko, J. P. (2005), Solving Multi-class Problem using Support Vector Machines, Journal of Korean Institute of Information Scientists and Engineers, 32(12), 1260-1270.
Lee, J. S. and Park, T. H. (2015), Defect Classification of Components for SMT Inspection Machines, Journal of Institute of Control, Robotics and Systems, 21(10), 982-987.
Jung, M. C. (2010), Study on Machine Vision Algorithms for LCD Defects Detection, Journal of the Semiconductor & Display Technology, 9(3), 59-63
Ko, K. W., Lee, Y. J., Choi, B. W., and Koh, K. C. (2004), CCM (Compact Camera Module) Defect Inspection, Proceedings of the Korea Society for Precision Engineering Conference, 585-589.
Ko, J. P. (2005), Solving Multi-class Problem using Support Vector Machines, Journal of Korean Institute of Information Scientists and Engineers, 32(12), 1260-1270.
Lee, J. S. and Park, T. H. (2015), Defect Classification of Components for SMT Inspection Machines, Journal of Institute of Control, Robotics and Systems, 21(10), 982-987.
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