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배재철 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 김주호 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 김현기 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 황인오 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 박창민 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 박현수 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 정문일 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소) 노명도 (삼성전자[주] 디지털미디어연구소)
저널정보
정보저장시스템학회 정보저장시스템학회 추계학술대회논문집 정보저장시스템학회 2005년도 추계학술대회 논문집
발행연도
2005.1
수록면
119 - 123 (5page)

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2006

Super-RENS Disc의 Random 신호 특성
배재철 ,  김주호 ,  김현기 외 5명 정보저장시스템학회논문집 2006.01 학술저널

2005

Super-RENS Disc의 Random 신호 특성
배재철 ,  김주호 ,  김현기 외 5명 정보저장시스템학회 추계학술대회논문집 2005.01 학술대회자료

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We report the random pattern characteristics of the super resolution near field structure(Super-RENS) write once read-many(WORM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 405nm, numerical aperture 0.85) and the Super-RENS read only memory(ROM) disc at a blue laser optical system(laser wavelength 659nm, numerical aperture 0.65). We used the WORM disc of which carrier-to-noise ratio (CNR) of 75nm is 47dB and ROM disc of which carrier-to-noise ratio (CNR) of 173nm is 45dB. We controlled the equalization (EQ) characteristics and used advanced partial-response maximum likelihood (PRML) technique. We obtained bit error rate (bER) of 10-3 level at 50GB WORM disc and bite error rate of 10-4 level at 50GB level ROM disc. This result shows high feasibility of Super-RENS technology for practical use.
#Super-RENS #bER #CNR #noise #bER threshold

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