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저자정보
이보영 (서울대학교 생활과학대학 의류학과) 유효선 (서울대학교 생활과학대학 의류학과/서울대학교 생활과학 연구소)
저널정보
한국의류학회 한국의류학회 학술발표논문집 한국의류학회 2010년도 춘계학술대회
발행연도
2010.1
수록면
60 - 60 (1page)

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고고유물에 사용된 염료의 동정(同定)과 분석은 인류 문화사적 측면에서 의의가 크나, 그의 정확한 분석에는 많은 어려움이 따른다. 특히 염직유물의 경우, 시간과 환경에 의한 노화(老化, aging) 및 퇴화(退化, degradation)가 직물과 염료 모두에서 일어나며 이로 인해 샘플링에 많은 제한이 따르기 때문이다. 이러한 측면을 극복하고자 최근 활발히 진행되고 있는 첨단 표면 분석 기술인 TOF-SIMS를 응용하여, 염직 유물의 극미량, 비파괴적 분석의 가능성 및 한계점을 고찰하고자 하였다. 유물 분석의 최대 제한점인 샘플링의 한계를 보완하고 다양한 분석법을 통해 비교하기에 충분한 양을 확보하기 위해 실제 유물이 아닌 인공 광 퇴화 시뮬레이션을 실행하였다. 천연 염색한 후 일광과 유사한 광원에 노출시켜 광화학적 퇴화를 유도한 샘플을 대상으로 각각 Spectrophotometer, ATR-FTIR, TOF-SIMS를 이용한 분석을 실행한 후 그 결과를 비교하였다. 실험에서 얻어진 결과는 다음과 같다: 1. 인공 퇴화된 염직물을 대상으로 한 육안관찰 및 spectrophotometer를 이용한 색상 분석 결과, 색의 변화 추이 및 원래 색의 계열을 유추할 수 있는 정보를 파악할 수 있었다. 이를 토대로 FTIR과 TOF-SIMS분석 결과 비교의 주안점을 찾을 수 있었다. 2. ATR-FTIR분석에서, 초기 염직물 및 퇴화된 염직물에서 염료성분 및 염료 성분의 변화를 정확하게 알아낼 수 없었다. 이는 바탕직물과 염료를 분리하지 않고 직물 자체를 시험하였을 때, 유기물인 직물과 역시 유기물인 염료성분 간에 공통된 정보가 많아 그 구별이 정확히 지어지기 어렵고, 또 초기에 염착된 염료성분의 양이 매우 적은 데에서 비롯한다. 3. TOF-SIMS를 이용한 분석에서, 홍화를 제외한 치자와 쪽 샘플의 초기 염색물 및 퇴화물 모두에서 염료성분을 성공적으로 확인할 수 있었으며, 염료성분의 세기(intensity)가 감지되었다. 홍화 샘플의 경우, 주색소인 카타민의 분자량이 커 측정 범위 내에서 검출되지는 않았으나 그 토막 이온들이 검출됨으로써 원래 성분을 유추할 수 있게 하였다. TOF-SIMS분석을 통해 염료를 따로 추출하지 않고 염직물 자체를 측정하여 표면의 미량 정보를 효과적으로 파악할 수 있었으며, 초기 염색물뿐 아니라 육안으로 색을 판별할 수 없는 단계 이상으로 인공 퇴화된 염직물에서도 물질 고유의 분자량 이온피크와 그 세기(intensity)를 통해 염료성분의 정성/정량 분석이 용이하였다.

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