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자료유형
학술대회자료
저자정보
Kimura, Munehiro (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Tanaka, Norihiko (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Bansho, Ryota (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology) Akahane, Tadashi (Dept. of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.I
발행연도
2005.1
수록면
191 - 194 (4page)

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Evaluating methods of the polar and/or azimuthal anchoring strength coefficients by means of the renormalized transmission spectroscopic ellipsometry are demonstrated. The Anchoring strength coefficients can be evaluated from the measurement of ellipsometric parameters measured by the oblique incident transmission ellipsometry, where the effect of multiplebeam interference is eliminated. The device parameters such as the pretilt angle and cell gap can be determined simultaneously even in the case of the twisted nematic liquid crystal sample cells.

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