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자료유형
학술대회자료
저자정보
Oh, Yu-mi (Physics, Chungnam National University) Im, Ji-Young (Physics, Chungnam National University) Lee, Eun-Kyu (Physics, Chungnam National University) Kim, Jong-Hyun (Physics, Chungnam National University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
발행연도
2006.1
수록면
834 - 837 (4page)

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We observed the destruction of the liquid crystal alignment with the repeating scan of strong DC electric field. The strong electric field seems to force the alignment to be scarred permanently and it accumulated with the repetition. In this report we connected alignment destruction behavior and electric field strength to obtain information on the alignment strength. And we compared the behavior between different alignment techniques.

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