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저자정보
Lee, Soo-Beom (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Jeoung, J.M. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Ko, B.D. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Oh, P.Y. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Moon, M.W. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Lee, J.H. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Lim, J.E. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Lee, H.J. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon University) Han, Y.G. (Charged Particle Beam and Plasma Lab./PDP Research Center, Department of Electrophysics, Kwangwoon Unive) Yoo, N.L. Jeoung, S.H. Son, C.G. Choi, E.H.
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II
발행연도
2005.1
수록면
1,207 - 1,210 (4page)

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The MgO protective layer provides protection from the discharge, lowers the discharge voltage and prolongs the AC-PDP lifetime. We have investigated the characteristics of degradation of MgO protective layer, which correlates to the image-sticking[1] and the lifetime in AC-PDP. The degraded MgO have been changed the surface morphology of MgO. It was found that panel lifetime depended on degradation of MgO protective.

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