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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
오춘석 (선문대학교 기계ICT융합공학부)
저널정보
한국인터넷방송통신학회 한국인터넷방송통신학회 논문지 한국인터넷방송통신학회 논문지 제16권 제3호
발행연도
2016.1
수록면
123 - 128 (6page)

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이차 전지 생산 공정에서 발생되는 전극 표면의 결함을 검사하는 비전 시스템을 연구 개발한다. 전극 표면 검사 비전 시스템은 제어 및 광학계의 하드웨어 설계 부분과 비전 검사용 소프트웨어 알고리즘 개발로 크게 두 부분으로 구성된다. 하드웨어는 시스템 구성, 광학계의 설계, 조명부, 제어부로 나누어지며 소프트웨어는 결함 검출 알고리즘을 개발 구현한다. 이 시스템을 통해서 전극 공정의 자동 결함 검출을 통해서 품질 향상과 가격 경쟁을 목표로 한다. 제안된 결함 검출 알고리즘을 이용하여 검사한 결과 전극의 반점, 라인, 맨홀, 이물, 스크래치, 분화구 불량에 대해서 높은 신뢰성을 보인다.
#Surface Defects #Electrode Plates #Visual Inspection

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참고문헌 (8)

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오춘석 / 2013 / 동판의 결함 검출 위한 3차원 분석 시스템 개발 / 한국인터넷방송통신학회 논문지 13(1):55~62 dbpia 조상희 / 2006 / 백라이트 유닛의 결함 검사를 위한 비전 시스템 개발 / 전기학회논문지 D권 55(4(D)):161~164 google schola 오춘석 / 2003 / 볼트 결함 판별을 위한 고속 정밀 검사 장치 개발 / 정보처리학회논문지. 소프트웨어 및 데이터 공학 10(3):305~310 google schola C. S. Oh / 2000 / Automatic Visual Inspection System Development for Tarpaulin’s Pinholes Defect Detection / Journal of KIPS 7(6):1973~1979 google schola C. S. Oh / 1999 / Video Tape Recorder Head inspection using image processing techniques / Optical Engineering 38(1):124~130 google schola

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