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학술대회자료
저자정보
김연수 (충남대학교) 서지형 (충남대학교) 손영구 (충남대학교) 김정권 (충남대학교)
저널정보
한국분석과학회 한국분석과학회 학술대회 제66회 한국분석과학회 춘계학술대회 [초록집]
발행연도
2021.5
수록면
198 - 198 (1page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2021

Surface analysis of Integrated Circuit Chip with SEM-EDS and XRD
김연수 ,  서지형 ,  장한별 외 3명 한국분석과학회 학술대회 2021.11 학술대회자료
Surface analysis of Printed Circuit Board with SEM-EDS
김연수 ,  서지형 ,  손영구 외 1명 한국분석과학회 학술대회 2021.05 학술대회자료

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Scanning electron microscopy-Energy dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDS) produces images by detecting various signals that derives from electron-sample interactions. The signals contain information about the surface topography and chemical composition of materials down to a few microns. In this reason, SEM-EDS can be applied to various fields such as material science, biology, nano technology, forensic, semiconductor industry and so ... 전체 초록 보기

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