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구현지 (한국표준과학연구원) 조치현 (한국표준과학연구원) 강태원 (한국표준과학연구원) 김대찬 (한국표준과학연구원) 권재용 (한국표준과학연구원)
저널정보
한국전자파학회 한국전자파학회논문지 한국전자파학회논문지 제32권 제5호(통권 제288호)
발행연도
2021.5
수록면
425 - 434 (10page)

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본 논문은 비선형 벡터 회로망분석기(nonlinear vector network analyzer, NVNA)에 기반한 비선형 회로의 출력 파형 측정과 불확도 평가법에 대하여 나타내었다. NVNA는 임피던스, 위상, 전력 교정을 위해 각각 동축 임피던스 교정 키트, 위상 교정용 콤(comb) 발생기, 전력 감지기를 교정 기준물로 사용하였다. 또한, 칩 종단면에서 측정 파형을 얻기 위하여 동일 PCB 상에 multiline through-reflect-line (mTRL) 교정 기준물을 제작하였고, 2단계 (2-tier) 교정 기준물로 활용하였다. 대응되는 측정표준에 대하여 이 교정 기준물들을 교정하고 불확도를 평가하여 각 성분들을 출력 파형의 불확도로 전파하였고, 성분별 불확도 기여도를 비교하였다. 특히, 본 논문에서는 동축 임피던스 교정 키트와 위상 교정용 콤 발생기의 불확도는 주파수 상관관계를 포함하는 전(全) 공분산 형태로 평가하여, 시간 영역 파형 측정 불확도를 정밀하게 얻을 수 있었다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. NVNA 교정 및 측정 셋업
Ⅲ. 교정 기준물의 불확도 평가
Ⅳ. 불확도 전파
Ⅴ. 결론
References

참고문헌 (10)

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