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저자정보
배광일 (한국과학기술정보연구원) 이원혁 (한국과학기술정보연구원) Kyu-Seok Shim (한국과학기술정보연구원)
저널정보
한국통신학회 한국통신학회 학술대회논문집 2022년도 한국통신학회 동계종합학술발표회 논문집
발행연도
2022.2
수록면
154 - 155 (2page)

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본 논문을 통하여 기기 독립적 양자 난수성 확인과 관련된 연구 동향을 정리한다. 현재까지 다양한 양자 상태, 측정을 활용한 양자 난수성 확인 방법이 제안된 바 있다. 본 논문에서는 우선 양자정보이론에서 양자 난수성이 정량화되는 방식과 주어진 Hilbert 공간 차원에서 얻을 수 있는 난수성의 최대값을 알아본다. 이를 바탕으로 최대량의 난수성을 확인하기 위한 연구 흐름을 정리한다. 기기 독립 양자 난수성 확인 방법은^_@span style=color:#999999 ^_# ... ^_@/span^_#^_@a href=javascript:; onclick=onClickReadNode('NODE11047384');fn_statistics('Z354','null','null'); style='color:#999999;font-size:14px;text-decoration:underline;' ^_#전체 초록 보기^_@/a^_#

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