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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
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저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.1 No.6
발행연도
2017.12
수록면
637 - 641 (5page)

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We present dielectric constant measurements of thin films using THz metamaterials fabricated on a quartzsubstrate. The resonance shifts of the metamaterials exhibit saturation behavior with increasing filmthickness. The saturation frequency shift varies with the real part of the dielectric constant, from whichthe numerical expression for the particular metamaterial design was extracted. We first performedfinite-difference time-domain simulations to find an explicit relationship between the saturated frequencyshift and the dielectric constant of a thin film, which was confirmed by the experimental results fromconventional techniques. In particular, the quartz substrate enables us to determine their values moreaccurately, because of its low substrate index. As a result, we extracted the dielectric constants of variousfilms whose values have not been addressed previously without precise control of the film thickness.

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2023-425-000230725