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초록· 키워드
Various kinds of pollutants are released from semiconductor manufacturing lines. Process gases, such as precursors, reactant gases, and greenhouse gases(F-gases or N2O), are only partially consumed in a process chamber. Particle byproducts are inevitably generated as a result of etching or deposition processes. The unconsumed process gases and the particle byproducts are exhausted from the process chamber during the purging and cleaning steps using a vacuum pump. We have verified that a foreline plasma is applicable to the treatment of F-gases, deposition precursors, and particle byproducts. Fourier-transform infrared spectroscopy(FTIR) was used for evaluating the destruction and removal efficiency(DRE). Optical emission spectroscopy(OES) was used for evaluating the plasma stability and monitoring the chemical progressions occurring in plasmas.
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목차
- 서론
- 본론
- 결론
- References
참고문헌
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