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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
심경배 (성균관대학교) 박철민 (성균관대학교 에너지과학과) 이준신 (성균관대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제30권 제3호
발행연도
2017.3
수록면
139 - 143 (5page)
DOI
https://doi.org/10.4313/JKEM.2017.30.3.139

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N-type 결정질 실리콘 태양전지는 metal impurity와 높은 minority carrier lifetime에 의한 변환 효율의 증가의 뛰어난 가능성으로 이목을 받고있다. N-type 실리콘 태양전지의 주목에도 보론 확산 층과 N-type substrate 사이의 junction quality는 효율 증가에 중요한 역할을 한다. 본 논문에서는 고효율 N-type 실리콘 태양전지를 위한 보론 확산층의 현황과 전망 및 보론 확산 방법 (열적 확산, a-SiOx:B 막을 사용한 co-diffusion), Boron rich layer (BRL) 및 Boron silicate glass (BSG)의 분석 junction 특성에 대해 서술하였다. In-situ oxidation은 BRL을 제거하기 위해 사용되어지며 FTIR 분석을 통해 oxidation 처리에 따른 도핑 후 B-O peak 감소 및 BRL의 SiO2 phase로의 변환을 확인하였다. a-SiOx:B 막은 N-type 웨이퍼 위에 SiH4, B2H6, H2, CO2 가스를 통해 PECVD 장비로 증착하였으며 퍼니스로 확산시켰다. SiH4, B2H6가 높을수록 MCLT(Minority Carrier Lifetime)이 증가하였으며, a-SiOx:B 막이 제거됨에 따라 Si-O peak이 감소하며 B-H peak이 다소 감소하나 inactive된 보론 원자들의 수소에 의한 부동태화로 MCLT가 증가하였다. 본 논문에서는 N-type 결정질 태양전지를 위한 보론 에미터에 대해 연구하였다.

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